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Mittwoch, 6. November 2013
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Die EMS im Geochemischen Institut:
JEOL JXA 8900 RL
Technische Ausstattung

Aufbau des Gerätes
Wolfram- oder LaB6 -Kathode: 0,2 bis 40 kV Beschleunigungsspannung, Strahlstrom 10-12 bis 10-5 A; Strahlstromstabilisierung auf allen vier Aperturblenden

5 Wellenlängendispersive Spektrometer
, davon ein hochsensitives ("H-Type") mit kleinem Rowlandkreis (R=100mm) und JOHANSSON-Optik-Kristallen
Großer Wellenlängenbereich (ca. 0,925 - 0,215 sin-theta); Hochvakuum, offene Bauweise, somit keine Absorbtion an Trennfenstern

WDS-Detektoren:
ArCH4-Flowcounter, Xe-Counter, variabler Detektorschlitz; Elementbereich Be bis U, 14 Analysatorkristalle, davon 5 Multilayer
Energiedispersives System zur schnellen simultanen Elementidentifikation; 139 eV Auflösung (Mn-K-alpha), hochreproduzierbare Aperturen für den gesamten Strahlstrombereich, vollständig in die quantitative Analyse integriert.



Kühlfinger
und Airjet zur Antikontamination
Optisches Mikroskop: Auflicht, Durchlicht, Polarisation, Farb-TV-Kamera

Vakuumpumpsystem
: Ölfreie Vorpumpe nach den "Scroll-System" (12 m3/h), magnetgelagerte Turbomolekularpumpe (300 l/sek.) und Ti-Ionengetterpumpe mit Sm-Co-Magnet.

Probentisch
: Viele Probenformate sind bis zu einer Maximalgröße von B 100 x T 65 x H 20 mm einsetzbar. Analysierbare Fläche: 80 x 80 mm; hochreproduzierbare Steuerung der Probenbühne. Microstepmodus: 0,02 µm-Schrittweite

Trace-Autofocus-System (TAF):
Hochreproduzierbare optische "in situ" Autofokussierung sowohl für die Einzelpunktanalyse, als auch Map- und Lineverfahren.

Bildmethoden
: Sekundärelektronendetektion (SE) bis <6 nm laterale Auflösung,extreme Tiefenschärfe durch LDF-Modus („Large depth of focus“)
Rückstreuelektronen im Topographie (TOPO)- und Composition (COMPO)-Modus; hohe Ordnungzahlempfindlichkeit
Kathodolumineszenzdetektor (KL): Quarzglasfenster, Spektralbereich: 200-900 nm
Elementverteilungsbilder sind auf 5 Spektrometern und bis zu 8 EDS-Kanälen simultan möglich und mit KL-, COMPO-, TOPO-, SE-Signalen kombinierbar.
Der Point-Logger dient der Messpunktvorauswahl an einem modernen Polarisationsmikroskop inklusive digitaler Bildspeicherfunktion. Die Entkopplung der Probenvoruntersuchung vom eigentlichen Messschritt spart wertvolle Geräte-Nutzungszeit ein.

Software
: Kombination von WDS und EDS in allen Analysenmethoden; Automatische Peakidentifikation, Spektrenentfaltung und semiquantitative Analyse bei EDS und WDS. Phasenanalyse; Korrekturmethoden der quantitativen Analyse: ZAF, XPP (POUCHOU & PICHOIR 1991) und Phi-rho-z (ARMSTRONG 1991) sowie lineare Kalibrierung. Simultane Messung WDS - EDS; beliebige Addition berechneter Elemente; Peaküberlappungskorrektur. Bilddigitalisierung und - archivierung.


 
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